Avaliação da resistência à corrosão de filmes finos de ZrN e TiZrN depositados em aço inoxidável biomédico.

• Ano de defesa: 2014
• Autor(a) principal: SOARES, André Lopes.
• Orientador(a): CASTRO, Walman Benício de.
• Banca de defesa: FOOK, Marcus Vinicius., SANTOS, Patrícia Tatiana Araújo dos.
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Instituição de defesa: Universidade Federal de Campina Grande
• Programa de Pós-Graduação: PÓS-GRADUAÇÃO EM CIÊNCIA E ENGENHARIA DE MATERIAIS
• Departamento: Centro de Ciências e Tecnologia - CCT
• País: Brasil
• Palavras-chave em Português: Filmes finos; Resistência à corrosão; Nitreto de Ti; Nitreto de Zr; Resistance to corrosion; Nitrite Ti; Nitreto de zircônio; Zirconium nitride; Sputtering; Aço inoxidável médico 316L; Medical Stainless Steel 316L; Thin films
• Área do conhecimento CNPq: Ciência e Engenharia de Materiais
• Link de acesso: http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/339

Filmes finos de Nitreto de zircônio (ZrN) e nitreto da mistura titânio-zircônio (TiZrN) foram depositados sobre substratos de aço inoxidável 316L usando o método de RF Sputtering para deposição dos filmes. O planejamento de experimentos (DOE) tem sido reconhecido como um método poderoso para otimizar um processo complexo na indústria. Os efeitos do presente estudo foram verificar a viabilidade e confiabilidade da aplicação do método DOE em processos de RF Sputtering, otimizar os parâmetros de processamento para o processo de deposição, identificando os parâmetros sensíveis que afetam a espessura da camada depositada (E.C.D) e a resistência à corrosão (Ecorr.) Para o método de RF Sputtering, dois parâmetros, a taxa e tempo de deposição foram escolhidos para serem os parâmetros do processo. Depois da deposição, a estrutura de camada depositada foi caracterizada por Difração de Raios X (DRX) e por Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV). Após o ensaio de polarização, a corrosão foi realizada a fim de investigar a relação entre o início da corrosão e a espessura da camada depositada. A análise de variância (ANOVA) foi realizada para avaliar os parâmetros sensíveis e prever as condições ideais. Com base na análise estatística, os parâmetros mais sensíveis no processo de RF Sputtering foram tanto a taxa como também o tempo de deposição do filme fino. As melhores condições de deposição foram a taxa de deposição máxima e tempo máximo.