Electronic structure of topological materials probed by angle-resolved photoemission spectroscopy

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2021
Autor(a) principal: Pedro Henrique Rezende Gonçalves
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Tese
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: eng
Instituição de defesa: Universidade Federal de Minas Gerais
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Estrutura eletrônica
Semimetais
Fotoemissão
Ondas de densidade de carga
Topological insulators
Weyl semimetals
Charge-density waves
Angle-resolved photoemission spectroscopy
Link de acesso: https://hdl.handle.net/1843/38460
Resumo: CNPq - Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico
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