Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 1998
Autor(a) principal: Teani, Carlos Roberto Negrão
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Tese
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: [s.n.]
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Circuitos integrados
Teorias não-lineares
Medidas elétricas
Link de acesso: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1586778
Resumo: Orientador: Alberto Martins Jorge
id UNICAMP-30_772b144b8908fc40c8a15d2f53203bca
oai_identifier_str oai::136274
network_acronym_str UNICAMP-30
network_name_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
repository_id_str
spelling Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linearCircuitos integradosTeorias não-linearesMedidas elétricasOrientador: Alberto Martins JorgeTese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de ComputaçãoResumo: Buscando alternativa para a realização de testes paramétricos de circuitos em linha de produção, os quais consomem percentual significativo dos recursos, é demonstrada a viabilidade da aplicação de teste sistêmico para este fim. O método baseia-se no comportamento dinâmico não linear dos dispositivos, comportamento este que é analisado através de mapas obtidos do espaço de estado do sistema dinâmico. Os resultados obtidos demonstram que é possível a identificação de pequenas diferenças paramétricas entre dispositivos e portanto a aplicação do método para testes do tipo passa/não-passa em linha de produção, com redução do tempo de teste sem perda de testabilidadeAbstract: Considering the fact that parametric test in integrated circuits manufacturing line is expensive and time consuming, a systemic go/no-go test type has been developed for time reduction. Using the dynamic nonlinear behavior of the electronic devices, the space states is studied through maps to identify parametric deviations of the device under test. The results show the feasibility of the method without reduction of the testabilityDoutoradoEletrônica e ComunicaçõesDoutor em Engenharia Elétrica[s.n.]Jorge, Alberto Martins, 1943-2009Universidade Estadual de Campinas. Faculdade de Engenharia Elétrica e de ComputaçãoPrograma de Pós-Graduação em Engenharia ElétricaUNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINASTeani, Carlos Roberto Negrão19981998-12-15T00:00:00Zinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/doctoralThesisapplication/pdf126p. : il.(Broch.)https://hdl.handle.net/20.500.12733/1586778TEANI, Carlos Roberto Negrão. Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear. 1998. 126p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1586778. Acesso em: 8 mai. 2024.https://repositorio.unicamp.br/acervo/detalhe/136274porreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)instname:Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)instacron:UNICAMPinfo:eu-repo/semantics/openAccess2014-04-18T12:10:21Zoai::136274Biblioteca Digital de Teses e DissertaçõesPUBhttp://repositorio.unicamp.br/oai/tese/oai.aspsbubd@unicamp.bropendoar:2014-04-18T12:10:21Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)false
dc.title.none.fl_str_mv Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear
title Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear
spellingShingle Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear
Teani, Carlos Roberto Negrão
Circuitos integrados
Teorias não-lineares
Medidas elétricas
title_short Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear
title_full Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear
title_fullStr Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear
title_full_unstemmed Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear
title_sort Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear
author Teani, Carlos Roberto Negrão
author_facet Teani, Carlos Roberto Negrão
author_role author
dc.contributor.none.fl_str_mv Jorge, Alberto Martins, 1943-2009
Universidade Estadual de Campinas. Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação
Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica
UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
dc.contributor.author.fl_str_mv Teani, Carlos Roberto Negrão
dc.subject.por.fl_str_mv Circuitos integrados
Teorias não-lineares
Medidas elétricas
topic Circuitos integrados
Teorias não-lineares
Medidas elétricas
description Orientador: Alberto Martins Jorge
publishDate 1998
dc.date.none.fl_str_mv 1998
1998-12-15T00:00:00Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/doctoralThesis
format doctoralThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv (Broch.)
https://hdl.handle.net/20.500.12733/1586778
TEANI, Carlos Roberto Negrão. Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear. 1998. 126p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1586778. Acesso em: 8 mai. 2024.
identifier_str_mv (Broch.)
TEANI, Carlos Roberto Negrão. Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear. 1998. 126p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1586778. Acesso em: 8 mai. 2024.
url https://hdl.handle.net/20.500.12733/1586778
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.relation.none.fl_str_mv https://repositorio.unicamp.br/acervo/detalhe/136274
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
126p. : il.
dc.publisher.none.fl_str_mv [s.n.]
publisher.none.fl_str_mv [s.n.]
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
instname:Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
instacron:UNICAMP
instname_str Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
instacron_str UNICAMP
institution UNICAMP
reponame_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
collection Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
repository.mail.fl_str_mv sbubd@unicamp.br
_version_ 1798511963415773184

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