Estudo da técnica de redução eletrolítica de filmes de produtos de corrosão formados sobre cobre.

• Ano de defesa: 2000
• Autor(a) principal: Bezerra, Flavia Gerjoi
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Instituição de defesa: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
• Palavras-chave em Português: Cobre; Copper; Corrosion products; Electrolytic reduction; Produtos de corrosão; Redução eletrolítica
• Link de acesso: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3137/tde-05082025-143631/

A técnica de redução eletrolítica tem sido amplamente usada na caracterização de filmes finos para a determinação de suas espessuras e suas composições. O cobre é um material muito usado como condutor elétrico, porém a presença de produtos decorrosão sobre o mesmo, visível ou não, prejudica a sua aplicação. Neste trabalho foram estudados os parâmetros: acabamento superficial, densidade de corrente catódica aplicada e eletrólitos utilizados nos ensaios de redução eletrolítica, com oobjetivo de se avaliar as influências destas, na caracterização de produtos de corrosão formados sobre cobre. Como técnicas auxiliares foram utilizados ensaios eletroquímicos de voltametria cíclica e análise de espessuras de filmes finos atravésda técnica óptica de elipsometria. Na obtenção de camadas de óxidos de espessuras e composição constantes foram realizadas oxidações de eletrodos de cobre em \'NA\'OH 0,1 M, aplicando-se potencial anódico constante. Baseado nos resultados dosensaios de redução eletrolítica, verificou-se que em amostras lixadas apresentaram maiores espessuras de óxido do que as amostras polidas, a variação da densidade de corrente catódica aplicada desloca os patamares de potenciais das curvas:densidades de corrente muito altas não são eficazes para caracterização de camadas muito finas e para densidades de corrente muito baixas a técnica de redução eletrolítica não é sensível. O eletrólito de N\'H IND.4\'\'CL\' não é recomendado devidoaofato de ocorrer dissolução das camadas de óxidos nesse meio. As espessuras dos filmes de óxido obtidas pela técnica de redução eletrolítica foram analisadas com as obtidas pela técnica de elipsometria e os resultados não foram comparáveis.